用途：

1. 基片表面檢查

2. 基片表面的刮痕、斑、污垢、基片附着、導物附着等檢查

特點：

1. 適用於桌上的支援型檢查裝置

2. 裝設放大鏡，可以當場確認

3. 採用高精細的彩色面積照相機可以對PACK AGE電路板,進行高速，高精度的自動檢查

4. 採用全彩色系統減少虛報進行安定檢查

5. 欠缺部位的位置表示，可以使檢驗作業順利進行

6. 金屬部，綠漆部等部位分別採用彩色抽取進行個別檢查